Lens en sample positionering in microscopie

Het verticaal positioneren en scannen van het microscoop-objectief is een ideale toepassing voor piezo-vattingen:

  • Focussering is snel
  • Resolutie is op sub-nanometer schaal
  • Up-looking of down-looking configuraties
  • Lange translatieslag

Toepassingen: auto-focus, confocale microscopie, stacked images, FRET, CARS, STED.

We leveren ook speciaal ontwikkelde sample stages voor diverse merken microscopen

  • Heel plat (16mm hoogte)
  • Inclusief slides, dishes, SBS
  • XY-as positionering met nanometer resolutie
  • Vrije keuze X/Y slag combinatie
  • Piezo- en micrometerschoef te combineren voor grove/fijne instelling